KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Fast scan-fail device for class 1 operation of scanning micromirrors at a high laser power in the near-infrared region

Bogatscher, S.; Giesel, C.; Beuth, T.; Umesh-Babu, H.; Shinohara, L.; Heussner, N.; Streck, A.; Stork, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-9229-6
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000032370
Erschienen in Infrared sensors, devices, and applications II, San Diego, California, United States, August 14-15, 2012 . Ed.: P. D. LeVan
Verlag SPIE, Bellingham (Wash.)
Seiten 85120E
Serie Proceedings of SPIE ; 8512
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page