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Meyer, J.; Menzel, S.; Dreschmann, M.; Schmogrow, R.; Hillerkuss, D.; Freude, W.; Leuthold, J.; Becker, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-3360-6
KITopen ID: 1000032389
Erschienen in Proceedings of the 17th International OFDM Workshop (InOWo'12), Essen, August 29-30, 2012. Ed.: A. Czylwik
Verlag VDE-Verl., Berlin
Seiten 151-155
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