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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TGRS.2009.2029339
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Zitationen: 58

Ray-Tracing Simulation Techniques for Understanding High-Resolution SAR Images

Auer, S.; Hinz, S.; Bamler, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0196-2892
KITopen ID: 1000032462
Erschienen in IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing
Band 48
Heft 3
Seiten 1445-1456
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