Reevaluation of the beneficial effect of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries using Kelvin probe force microscopy
Zhang, Z. 1,2; Tang, X. 1,2; Kiowski, O.; Hetterich, M. 3; Lemmer, U. 1; Powalla, M. 1; Hölscher, H.
2
1 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
21 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0003-6951 KITopen-ID: 1000032761 |
| HGF-Programm | 43.13.04 (POF II, LK 01) |
| Erschienen in | Applied Physics Letters |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 100 |
| Heft | 20 |
| Seiten | 203903/1-4 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |