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Reevaluation of the beneficial effect of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries using Kelvin probe force microscopy

Zhang, Z.; Tang, X.; Kiowski, O.; Hetterich, M.; Lemmer, U.; Powalla, M.; Hölscher, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4714905
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Zitationen: 19
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Zitationen: 17
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Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen-ID: 1000032761
HGF-Programm 43.13.04 (POF II, LK 01)
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 100
Heft 20
Seiten 203903/1-4
Nachgewiesen in Scopus
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