KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Reevaluation of the beneficial effect of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries using Kelvin probe force microscopy

Zhang, Z.; Tang, X.; Kiowski, O.; Hetterich, M.; Lemmer, U.; Powalla, M.; Hölscher, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen ID: 1000032761
HGF-Programm 43.13.04; LK 01
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 100
Heft 20
Seiten 203903/1-4
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page