Efficient algorithms to accurately compute derating factors of digital circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0026-2714 KITopen-ID: 1000032784 |
| Erschienen in | Microelectronics Reliability |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 52 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 1215-1226 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions OpenAlex Web of Science |