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Efficient algorithms to accurately compute derating factors of digital circuits

Asadi, H.; Tahoori, M.; Fazeli, M.; Miremadi, S. G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0026-2714
KITopen ID: 1000032784
Erschienen in Microelectronics Reliability
Band 52
Heft 6
Seiten 1215-1226
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