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Do dropouts really hurt? - Considerations about data quality and completeness in combined multiday and panel surveys

Chlond, B.; Wirtz, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Verkehrswesen (IFV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000032791
Erschienen in 9th International Conference on Transport Survey Methods, 14-18 November 2011, Chile: Proceedings
Veranstaltung 9th International Conference on Transport Survey Methods (ISCTSC 2011), Termas de Puyehue, Chile, 14.11.2011 – 18.11.2011
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