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Reducing NBTI-induced processor wearout by exploiting the timing slack of instructions

Oboril, F.; Firouzi, F.; Kiamehr, S.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-1426-8
KITopen ID: 1000032794
Erschienen in Proceedings of CODES+ISSS 2012, Tampere, Finland
Verlag ACM, New York
Seiten 443-452
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