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Ping-pong test: Compact test vector generation for reversible circuits

Zamani, M.; Tahoori, M. B.; Chakrabarty, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-1073-4
KITopen ID: 1000032802
Erschienen in 30th IEEE VLSI Test Symposium (VTS), Hyatt Maui, Hawaii, USA
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 164 - 169
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