Ping-pong test: Compact test vector generation for reversible circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-1073-4 KITopen-ID: 1000032802 |
| Erschienen in | 30th IEEE VLSI Test Symposium (VTS), Hyatt Maui, Hawaii, USA |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 164 - 169 |