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Reducing wearout in embedded processors using proactive fine-grain dynamic runtime adaptation

Oboril, F.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-0696-6
KITopen ID: 1000032803
Erschienen in Proceedings of the IEEE European Test Symposium (ETS'2012), Annecy, France
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 1-6
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