Reducing wearout in embedded processors using proactive fine-grain dynamic runtime adaptation
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-0696-6 KITopen-ID: 1000032803 |
| Erschienen in | Proceedings of the IEEE European Test Symposium (ETS'2012), Annecy, France |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 1-6 |