ExtraTime: Modeling and analysis of wearout due to transistor aging at microarchitecture-level
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-1624-8 KITopen-ID: 1000032806 |
| Erschienen in | Proceedings of the international conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2012), Boston, USA |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 1-12 |