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ExtraTime: Modeling and analysis of wearout due to transistor aging at microarchitecture-level

Oboril, F.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-1624-8
KITopen ID: 1000032806
Erschienen in Proceedings of the international conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2012), Boston, USA
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 1-12
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