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Physikalische Analyse der Ansprechverhaltens des CMS Siliziumdetektors beim Betrieb am LHC = Performance of the CMS Tracker under Irradiation

Barth, Christian

Abstract:

The subject of this thesis is the analysis of the evolution of silicon sensors' leakage current and full depletion voltage of the CMS silicon strip tracker. In this scope two newly developed measurement techniques for the full depletion voltage are presented. The results are compared with the established radiation damage models and a forecast for the evolution of the silicon sensors' properties is given.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000032944
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-329441
KITopen-ID: 1000032944
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Prüfungsdaten 11.01.2013
Schlagwörter radiation damage, silicon sensors, Hamburg model, leakage current, full depletion voltage
Referent/Betreuer Müller, T.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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