Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-329441 KITopen-ID: 1000032944 |
Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
Institut | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) |
Prüfungsdaten | 11.01.2013 |
Schlagwörter | radiation damage, silicon sensors, Hamburg model, leakage current, full depletion voltage |
Referent/Betreuer | Müller, T. |