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Fast 3D in-line sensor for specular and diffuse surfaces combining the chromatic confocal and triangulation principle

Taphanel, M.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4577-1773-4
KITopen ID: 1000033358
Erschienen in 2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings (I2MTC 2012)
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 1072 - 1077
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