Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Glasoberflächen

Höfer, S.; Roschani, M.; Werling, S.; Beyerer, J.; Puente León, F.; Beyerer, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISBN: 978-3-8440-0388-8 KITopen-ID: 1000033377
Erschienen in	Arbeitskreis der Hochschullehrer für Messtechnik e.V. -AHMT-: XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V. 2011 : 22. - 24. September 2011 in Karlsruhe; Tagungsband
Verlag	Shaker Verlag
Seiten	127-138