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Acquisition and Evaluation of Illumination Series for Unsupervised Defect Detection

Gruna, R.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-7935-1
KITopen-ID: 1000033396
Erschienen in Proc. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 192-197
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