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On Scene-Adapted Illumination Techniques for Industrial Inspection

Gruna, R.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-2832-8
KITopen-ID: 1000033449
Erschienen in Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), 2010 IEEE
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 498 - 503
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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