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Selection and Combination of Local Gabor Classifiers for Robust Face Verification

Arar, M.; Gao, H.; Ekenel, H. K.; Akarun, L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-1384-1
KITopen ID: 1000033530
Erschienen in Proc. of International Conference on Biometrics: Theory, Applications and Systems (BTAS 2012), Washington DC, USA, September, 2012
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 297 - 302
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