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A novel device for single particle light scattering size analysis and concentration measurement at high pressures and temperatures

Umhauer, H.; Meyer, J.; Schiel, A.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/ppsc.200700018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0934-0866
KITopen-ID: 1000033616
Erschienen in Particle & Particle Systems Characterization
Band 25
Heft 2
Seiten 119-135
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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