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Analysis of frequency domain spectroscopy measurements on power transformers by the use of a Finite Element based model

Geissler, D.; Jaya, M.; Leibfried, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-1019-2
KITopen ID: 1000034043
Erschienen in 2012 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis (CMD), Bali, Indonesia, September 23-27, 2012
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 206-210
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