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Statistical Evaluation of Fatigue Crack Propagation from Natural Flaws in Silicon Nitride

Härtelt, M. 1; Riesch-Oppermann, H. 1; Schwind, T. 1; Kraft, O. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1111/j.1551-2916.2011.04635.x
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Dimensions
Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0002-7820
KITopen-ID: 1000034248
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in Journal of the American Ceramic Society
Verlag American Ceramic Society
Band 94
Heft 10
Seiten 3480-3487
Nachgewiesen in Dimensions
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