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Kamerabasierte Messverfahren zur Bestimmung neuartiger Prozesskenngrößen bei thermischen Prozessen

Waibel, Patrick; Matthes, Jörg; Keller, Hubert B.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000032863
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-985-5
ISSN: 1869-9669
urn:nbn:de:swb:90-345235
KITopen-ID: 1000034523
HGF-Programm 34.02.02 (POF II, LK 01) Simulation und Messtechnik
Erschienen in Chancen der Energiewende : wissenschaftliche Beiträge des KIT zur 1. Jahrestagung des KIT-Zentrums Energie, 19.06.2012. Hrsg.: W. Breh
Verlag KIT Scientific Publishing
Seiten 29-34
Serie KIT Scientific Reports ; 7640
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