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Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse

Dudeck, Sven Gerhard

Abstract:
Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.

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DOI: 10.5445/KSP/1000034572
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0019-3
ISSN: 2190-6629
urn:nbn:de:0072-345725
KITopen-ID: 1000034572
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang X, 260 S.
Serie Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie ; 6
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Prüfungsdaten 21.03.2013
Referent/Betreuer Prof. F. Puente León
Schlagworte Laserstrahlschweißen, Prozessüberwachung, Spektroskopie, Klassifikation, divergenzbasierte Kantendetektion
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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