KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse

Dudeck, Sven Gerhard

Abstract:

Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0019-3
ISSN: 2190-6629
urn:nbn:de:0072-345725
KITopen-ID: 1000034572
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang X, 260 S.
Serie Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie ; 6
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Prüfungsdaten 21.03.2013
Schlagwörter Laserstrahlschweißen, Prozessüberwachung, Spektroskopie, Klassifikation, divergenzbasierte Kantendetektion
Nachgewiesen in OpenAlex
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
Referent/Betreuer León, F. Puente

Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000034572
Seitenaufrufe: 340
seit 21.05.2018
Downloads: 5603
seit 06.06.2013
Die gedruckte Version dieser Publikation können Sie hier kaufen.
Cover der Publikation
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page