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DOI: 10.5445/KSP/1000034572
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Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse

Dudeck, Sven Gerhard

Abstract:
Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0019-3
ISSN: 2190-6629
URN: urn:nbn:de:0072-345725
KITopen ID: 1000034572
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang X, 260 S.
Serie Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie ; 6
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Prüfungsdaten 21.03.2013
Referent/Betreuer Prof. F. Puente León
Schlagworte Laserstrahlschweißen, Prozessüberwachung, Spektroskopie, Klassifikation, divergenzbasierte Kantendetektion
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