Neutron surface residual stress scanning using optimisation of a Si-bent perfect crystal monochromator for minimising spurious strains
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0255-5476 KITopen-ID: 1000034994 |
| Erschienen in | Materials Science Forum |
| Verlag | Trans Tech Publications |
| Band | 681 |
| Seiten | 399-404 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |