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Originalveröffentlichung
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.681.399

Neutron surface residual stress scanning using optimisation of a Si-bent perfect crystal monochromator for minimising spurious strains

Rebelo-Kornmeier, J.; Gibmeier, J.; Hofmann, M.; Wimpory, R. C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0255-5476
KITopen ID: 1000034994
Erschienen in Materials Science Forum
Band 681
Seiten 399-404
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