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Neutron surface residual stress scanning using optimisation of a Si-bent perfect crystal monochromator for minimising spurious strains

Rebelo-Kornmeier, J.; Gibmeier, J. 1; Hofmann, M.; Wimpory, R. C.
1 Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.681.399
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Zitationen: 2
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0255-5476
KITopen-ID: 1000034994
Erschienen in Materials Science Forum
Verlag Trans Tech Publications
Band 681
Seiten 399-404
Nachgewiesen in Dimensions
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