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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0957-0233/22/6/065705
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Minimization of spurious strains by using a Si bent-perfect-crystal monochromator: neutron surface strain scanning of a shot-peened sample

Rebelo-Kornmeier, J.; Gibmeier, J.; Hofmann, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0957-0233
KITopen ID: 1000034995
Erschienen in Measurement Science and Technology
Band 22
Heft 6
Seiten 065705/1-9
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