Minimization of spurious strains by using a Si bent-perfect-crystal monochromator: neutron surface strain scanning of a shot-peened sample
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0957-0233 KITopen-ID: 1000034995 |
| Erschienen in | Measurement Science and Technology |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 22 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 065705/1-9 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Web of Science Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |