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DOI: 10.5445/KSP/1000035134
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Using Fine Grain Approaches for highly reliable Design of FPGA-based Systems in Space

Niknahad, Mahtab

Abstract:
Nowadays using SRAM based FPGAs in space missions is increasingly considered due to their flexibility and reprogrammability. A challenge is the devices sensitivity to radiation effects that increased with modern architectures due to smaller CMOS structures. This work proposes fault tolerance methodologies, that are based on a fine grain view to modern reconfigurable architectures. The focus is on SEU mitigation challenges in SRAM based FPGAs which can result in crucial situations.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0038-4
ISSN: 2191-4737
URN: urn:nbn:de:0072-351342
KITopen ID: 1000035134
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang IX, 146 S.
Serie Steinbuch Series on Advances in Information Technology / Karlsruher Institut für Technologie, Institut für Technik der Informationsverarbeitung ; 9
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Prüfungsdaten 13.07.2012
Referent/Betreuer Prof. J. Becker
Schlagworte FPGA, High reliability, Space, Single Event Upset, Redundancy
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