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Using Fine Grain Approaches for highly reliable Design of FPGA-based Systems in Space

Niknahad, Mahtab

Abstract:
Nowadays using SRAM based FPGAs in space missions is increasingly considered due to their flexibility and reprogrammability. A challenge is the devices sensitivity to radiation effects that increased with modern architectures due to smaller CMOS structures. This work proposes fault tolerance methodologies, that are based on a fine grain view to modern reconfigurable architectures. The focus is on SEU mitigation challenges in SRAM based FPGAs which can result in crucial situations.

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DOI: 10.5445/KSP/1000035134
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0038-4
ISSN: 2191-4737
urn:nbn:de:0072-351342
KITopen-ID: 1000035134
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang IX, 146 S.
Serie Steinbuch Series on Advances in Information Technology / Karlsruher Institut für Technologie, Institut für Technik der Informationsverarbeitung ; 9
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Prüfungsdaten 13.07.2012
Referent/Betreuer Prof. J. Becker
Schlagwörter FPGA, High reliability, Space, Single Event Upset, Redundancy
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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