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Variations in functional decomposition for an existing

Eckert, Claudia; Ruckpaul, Anne; Alink, Thomas; Albers, Albert



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000035254
Erschienen in SME Verification and Validation Symposium ((V&V2012)), Las Vegas, Nevada, May 2-4, 2012
Verlag ASME, New York (NY)
Seiten 1 CD-Rom
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