Support for Micro-Tolerancing through the Feedback of Existing Quality-Related Data to Product Developers
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-9553082-9-1 KITopen-ID: 1000035395 |
| Erschienen in | Proceedings of the 11th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2011. Ed.: H. Spaan |
| Veranstaltung | 11th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN 2011), Como, Italien, 23.05.2011 – 27.05.2011 |
| Verlag | European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen) |
| Seiten | 542-545 |
| Nachgewiesen in | Scopus |