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Support for Micro-Tolerancing through the Feedback of Existing Quality-Related Data to Product Developers

Lanza, Gisela; Albers, Albert; Kippenbrock, Kyle; Börsting, Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-9553082-9-1
KITopen ID: 1000035395
Erschienen in Proceedings of the 11th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, Como, Italy, May 23 - 26, 2011. Vol. 2. Ed.: H. Spaan
Verlag Euspen, Bedford
Seiten 542-545
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