Statistics of voltage fluctuations in resistively shunted Josephson junctions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1098-0121 KITopen-ID: 1000035438 |
| HGF-Programm | 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures |
| Erschienen in | Physical Review B |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 81 |
| Heft | 18 |
| Seiten | 184516/1-9 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus OpenAlex Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |
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seit 31.08.2018
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