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Statistics of voltage fluctuations in resistively shunted Josephson junctions

Golubev, D. S.; Marthaler, M.; Utsumi, Y.; Schön, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevB.81.184516
ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000035438
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erschienen in Physical Review B
Band 81
Heft 18
Seiten 184516/1-9
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