Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2010 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 978-3-8169-3023-5 KITopen-ID: 1000035497 |
Erschienen in | Simulation und Test für die Automobilelektronik III: vom Konzept bis zur Serie. 4. Tagung 'Simulation und Test für die Automobilelektronik', Berlin, Mai/Juni 2010. Hrsg.: C. Gühmann |
Verlag | expert-Verlag |
Seiten | 65-74 |