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Deformation Behavior of Thin Metallic Wires under Tensile and Torsional Loadings

Chen, Ying

Abstract:
Size effects are widely observed in the mechanics of materials at the micron scale. However, the underlying deformation mechanisms remain ambiguous, particularly in the presence of strain gradients. In this work, combined microstructural investigations and mechanical tests (tension and torsion) were conducted on polycrystalline gold micro wires to determine the influences of specimen size, grain size, strain rate and loading type on the deformation behavior of the wires.

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DOI: 10.5445/KSP/1000035547
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0049-0
ISSN: 2192-9963
urn:nbn:de:0072-355475
KITopen-ID: 1000035547
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang V, 158 S.
Serie Schriftenreihe des Instituts für Angewandte Materialien, Karlsruher Institut für Technologie ; 26
Art der Arbeit Dissertation
Prüfungsdaten 07.03.2013
Schlagwörter micro-tension, micro-torsion, size effects, strain gradients, Hall-Petch effect
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