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Characterization of Primary Particle Size and Crystallinity by Using Small and Wide-angle X-ray Scattering

Guo, Xiaoai; Gutsche, Alexander; Dörfler, Willy

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000035595
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-355953
KITopen-ID: 1000035595
Erschienen in Proceedings, Partec Nürnberg, 23.-25.06.2013
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