Characterization of Primary Particle Size and Crystallinity by Using Small and Wide-angle X-ray Scattering
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-00-040578-5 urn:nbn:de:swb:90-355953 KITopen-ID: 1000035595 |
| Erschienen in | PARTEC 2013 : International Congress for Particle Technology ; Nürnberg, Germany, 23. - 25.4.2013 ; together with POWTECH 2013, TechnoPharm 2013 ; abstracts and proceedings |
| Veranstaltung | International Congress for Particle Technology (PARTEC 2013), Nürnberg, Deutschland, 23.04.2013 – 25.04.2013 |
| Verlag | NürnbergMesse GmbH |