I2 basal plane stacking fault in GaN: Origin of the 3.32 eV luminescence band
Tischer, I.; Feneberg, M.; Schirra, M.; Yacoub, H.; Sauer, R.; Thonke, K.; Wunderer, T.; Scholz, F.; Dieterle, L. 1; Müller, E.
1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gerthsen, D. 11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1098-0121 KITopen-ID: 1000035835 |
| Erschienen in | Physical Review B |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 83 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 035314/1-6 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |