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Stacking fault-related luminescence features in semi-polar GaN

Tischer, I.; Feneberg, M.; Schirra, M.; Yacoub, H.; Sauer, R.; Thonke, K.; Wunderer, T.; Scholz, F.; Dieterle, L. 1; Müller, E. 1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/pssb.201046498
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Zitationen: 13
Dimensions
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0370-1972
KITopen-ID: 1000035837
Erschienen in Physica Status Solidi (B)
Verlag John Wiley and Sons
Band 248
Heft 3
Seiten 611-615
Nachgewiesen in Dimensions
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