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Low energy point source microscopy of two-dimensional carbon nanostructures

Vieker, H.; Beyer, A.; Blank, H.; Weber, D. H.; Gerthsen, D.; Gölzhäuser, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0942-9352
KITopen ID: 1000035846
Erschienen in Zeitschrift für Physikalische Chemie
Band 225
Heft 11-12
Seiten 1433-1445
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