KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Optimized Ar+-ion milling procedure for TEM cross-section sample preparation

Dieterle, L.; Butz, B.; Müller, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen ID: 1000035848
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 111
Heft 11
Seiten 1636-1644
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page