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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2011.08.014
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Zitationen: 23

Optimized Ar+-ion milling procedure for TEM cross-section sample preparation

Dieterle, L.; Butz, B.; Müller, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen ID: 1000035848
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 111
Heft 11
Seiten 1636-1644
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