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Optimized Ar+-ion milling procedure for TEM cross-section sample preparation

Dieterle, L. 1; Butz, B.; Müller, E. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2011.08.014
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Zitationen: 39
Dimensions
Zitationen: 43
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000035848
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 111
Heft 11
Seiten 1636-1644
Nachgewiesen in Dimensions
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