Optimized Ar+-ion milling procedure for TEM cross-section sample preparation
Dieterle, L. 1; Butz, B.; Müller, E.
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1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0304-3991 KITopen-ID: 1000035848 |
| Erschienen in | Ultramicroscopy |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 111 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 1636-1644 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science OpenAlex |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |