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Scanning probe microscopy imaging of metallic nanocontacts

Stöffler, D.; Fostner, S.; Grütter, P.; Hoffmann-Vogel, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000035882
Erschienen in Physical Review B
Band 85
Heft 3
Seiten 033404/1-4
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