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Magnetoresistance measurement of tailored Permalloy nanocontacts

Patra, A. K.; Bieren, A. von; Krzyk, S.; Rhensius, J.; Heyderman, L. J.; Hoffmann, R.; Kläui, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevB.82.134447
ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000035884
Erschienen in Physical Review B
Band 82
Heft 13
Seiten Art.Nr.134447/ 1-8
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