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Sublattice identification in noncontact atomic force microscopy of the NaCl(001) surface

Hoffmann, R.; Weiner, D.; Schirmeisen, A.; Foster, A. S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevB.80.115426
ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000035885
Erschienen in Physical Review B
Band 80
Heft 11
Seiten 115426/1-8
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