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Sublattice identification in noncontact atomic force microscopy of the NaCl(001) surface

Hoffmann, R.; Weiner, D.; Schirmeisen, A.; Foster, A. S.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.80.115426
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Zitationen: 20
Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000035885
Erschienen in Physical Review B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 80
Heft 11
Seiten 115426/1-8
Nachgewiesen in Dimensions
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