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Screened empirical bond-order potentials for Si-C

Pastewka, L.; Klemenz, A.; Gumbsch, P.; Moseler, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000036351
Erschienen in Physical Review B
Band 87
Heft 20
Seiten 205410/1-12
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