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Screened empirical bond-order potentials for Si-C

Pastewka, L.; Klemenz, A.; Gumbsch, P. 1; Moseler, M.
1 Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.87.205410
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Zitationen: 109
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Zitationen: 119
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000036351
Erschienen in Physical Review B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 87
Heft 20
Seiten 205410/1-12
Nachgewiesen in Scopus
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