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Robustness of the Berezinskii-Kosterlitz-Thouless transition in ultrathin NbN films near the superconductor-insulator transition

Yong, Jie; Lemberger, T. R.; Benfatto, L.; Il'in, Konstantin; Siegel, M. 1
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.87.184505
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 13.05.2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1095-3795, 1098-0121, 1538-4489, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969, 2469-9977
KITopen-ID: 1000036542
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 87
Heft 18
Seiten 184505/1-8
Nachgewiesen in Web of Science
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