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Combined spatial and spectral unmixing of image signals for material recognition in automated inspection systems

Michelsburg, M.; Puente Leon, F.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2021660
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-9607-2
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000036667
Erschienen in Videometrics, range imaging, and applications XII - and Automated Visual Inspection - 14-16 May 2013, Munich, Germany. [Konferenz]. Ed.: F. Remondino
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten 87911E
Serie Proceedings of SPIE ; 8791
Nachgewiesen in Dimensions
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