Videometrics, range imaging, and applications XII - and Automated Visual Inspection - 14-16 May 2013, Munich, Germany [Konferenz]

Remondino, F. [Hrsg.]; Shortis, M. R. [Hrsg.]; Beyerer, J. [Hrsg.]; Puente Leon, F. [Hrsg.]

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Proceedingsband
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-0-8194-9607-2 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000036668
Verlag	Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Serie	Proceedings of SPIE ; 8791