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Fast high-precision distance measurements on scattering technical surfaces using frequency combs

Weimann, C. 1; Meier, D. 1; Wolf, S. 1; Schleitzer, Y.; Totzeck, M.; Heinrich, A.; Hoeller, F.; Leuthold, J. 1,2; Freude, W. 1,2; Koos, C. 1,2
1 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/CLEO_SI.2013.CTu2I.3
Scopus
Dimensions
Zitationen: 1
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-55752-972-5
KITopen-ID: 1000036794
HGF-Programm 43.14.04 (POF II, LK 01) Teratronics
Erschienen in Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO'13), San Jose, CA, June 9-14, 2013
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Seiten CTu2I.3.
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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