Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2012 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 978-3-8169-3121-8 KITopen-ID: 1000036812 |
Erschienen in | Simulation und Test für die Automobilelektronik IV. : 5. Tagung Simulation und Test für die Automobilelektronik, Mai 2012 Berlin. Hrsg.: C. Gühmann |
Verlag | expert-Verlag |
Seiten | 408-420 |