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Combined real and virtual domain product validation using top-down strategies

Geier, M.; Jäger, S.; Stier, C.; Albers, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000036814
Erschienen in ASME Verification and Validation Symposium, Las Vegas, Nevada/USA, May 2-4, 2012
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