Combined real and virtual domain product validation using top-down strategies

Geier, M.; Jäger, S.; Stier, C.; Albers, A.

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seit 26.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000036814
Erschienen in	ASME Verification and Validation Symposium, Las Vegas, Nevada/USA, May 2-4, 2012