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Validation as knowledgebase for future mobility systems

Albers, A.; Ott, S.; Behrendt, M.; Merkel, P.; Geier, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000036895
Erschienen in 9. Internationales CTI Symposium, Berlin, November 29 - December 2, 2010
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