Validation as knowledgebase for future mobility systems

Albers, A.; Ott, S.; Behrendt, M.; Merkel, P.; Geier, M.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000036895
Erschienen in	9. Internationales CTI Symposium, Berlin, November 29 - December 2, 2010

Seitenaufrufe: 240
seit 06.05.2018