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Micro gear validation: improving the correlation between virtual and physical testing

Albers, Albert 1; Börsting, Peter 1; Deigendesch, Tobias 1; Enkler, Hans-Georg 1; Leslabay, Pablo 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00542-009-0997-9
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Zitationen: 3
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Zitationen: 3
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0946-7076, 1432-1858
KITopen-ID: 1000036900
Erschienen in Microsystem technologies
Verlag Springer
Band 16
Heft 8-9
Seiten 1529-1535
Nachgewiesen in Scopus
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