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Micro gear validation: improving the correlation between virtual and physical testing

Albers, Albert; Börsting, Peter; Deigendesch, Tobias; Enkler, Hans-Georg; Leslabay, Pablo



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/s00542-009-0997-9
ISSN: 0946-7076, 1432-1858
KITopen ID: 1000036900
Erschienen in Microsystem technologies
Band 16
Heft 8-9
Seiten 1529-1535
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