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Micro gear validation: improving the correlation between virtual and physical testing

Albers, A.; Börsting, P.; Deigendesch, T.; Enkler, H.-G.; Leslabay, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/s00542-009-0997-9
ISSN: 0946-7076
KITopen ID: 1000036900
Erschienen in Microsystem Technologies
Band 16
Heft 8-9
Seiten 1529-1535
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