Rechnergestützte Entwicklung hochdynamisch belasteter Prüfstandskomponenten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000037070 |
| Erschienen in | Test Facility Forum (TFF'10), Frankenthal, September 28-29, 2010 |