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Rechnergestützte Entwicklung hochdynamisch belasteter Prüfstandskomponenten

Albers, A.; Jäger, S.; Hessenauer, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000037070
Erschienen in Test Facility Forum (TFF'10), Frankenthal, September 28-29, 2010
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