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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-642-38267-3_42

Defect Classification on Specular Surfaces Using Wavelets

Hahn, A.; Ziebarth, M.; Heizmann, M.; Rieder, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-642-38266-6
ISSN: 0302-9743
KITopen ID: 1000037626
Erschienen in Scale Space and Variational Methods in Computer Vision - 4th International Conference (SSVM'13), Schloss Seggau, Leibnitz, Austria, June 2-6, 2013 - Proceedings. Ed.: A. Kuijper
Verlag Springer, Berlin
Seiten 501-512
Serie Lecture Notes in Computer Science ; 7893
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