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Defect Classification on Specular Surfaces Using Wavelets

Hahn, A.; Ziebarth, M.; Heizmann, M.; Rieder, A. ORCID iD icon


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-642-38267-3_42
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-642-38266-6
ISSN: 0302-9743
KITopen-ID: 1000037626
Erschienen in Scale Space and Variational Methods in Computer Vision - 4th International Conference (SSVM'13), Schloss Seggau, Leibnitz, Austria, June 2-6, 2013 - Proceedings. Ed.: A. Kuijper
Verlag Springer-Verlag
Seiten 501-512
Serie Lecture Notes in Computer Science ; 7893
Nachgewiesen in Dimensions
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