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Thermal pattern generation for infrared deflectometry

Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.5162/sensor2013/P5.4
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9813484-3-9
KITopen-ID: 1000037629
Erschienen in AMA Conferences 2013 - Nürnberg Exhibition Centre, May 14-16, 2013 - SENSOR, OPTO and IRS²
Verlag AMA
Seiten 785-790
Nachgewiesen in Dimensions
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