Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-0-8194-9604-1 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000037630 |
Erschienen in | Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII. Ed.: P. H. Lehmann |
Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
Seiten | 8788OS/1-10 |
Serie | Proceedings of SPIE ; 8788 |
Nachgewiesen in | Dimensions |