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Speed-up chromatic sensors by optimized optical filters

Taphanel, M.; Hovestreydt, B.; Beyerer, J.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2020387
Dimensions
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-9604-1
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000037630
Erschienen in Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII. Ed.: P. H. Lehmann
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten 8788OS/1-10
Serie Proceedings of SPIE ; 8788
Nachgewiesen in Dimensions
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